探针座作为探针台的核心部件,主要用途是连接探针和线缆,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件,从调节精度上来区分可分为10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,从操作方式来区分可分为手动和电动,此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等,广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。
L型探针座设计紧凑,其结构设计允许探针以小角度插入,适用于高密度测试点的元件或线路板,避免探针干涉。可根据样品的实际情况进行选择。
● 主体材质采用进口航空铝,保证优异的稳定性及线性位移精度;
● 采用精密加工燕尾槽,采用分离式燕尾,保证位移精度;
● 整体采用手轮驱动,双顶丝设计,提高稳定性;
● L型探针夹具,45°固定角探针,超高线性度
● 探针夹具单螺纹锁紧,适配直径≤0.5mm以下探针,通用性强;
● 底部超强可调磁性底座,磁性吸附可达5Kg,保证扎针稳定性;
适用于R/F测量I/O点测量直流DC测试晶圆测试电阻电压测试太阳能电池测试光电流测试半导体器件分析测试
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