TLRS系列简易型基础测试探针台是我司根据产业用户生产检测需要,而特定设计的一款简易便携高性价比探针台,满足产线基本电学参数测试同时兼顾低成本优势,已成为工业生产领域批量检测的理想之选。
探针台又称探针测试台,主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对材料、芯片等进行科研实验分析,抽查测试等用途。
TLRS系列简易型基础测试探针台是我司根据产业用户生产检测需要,而特定设计的一款简易便携高性价比探针台,满足产线基本电学参数测试同时兼顾低成本优势,已成为工业生产领域批量检测的理想之选。
● 结构紧凑,功能实用,高性价比;
● 样品台XYZR四维调节,整体分辨率10μm,360°旋转可锁紧;
● 满足1μm以上电极/PAD使用;
● 兼容多种显微镜,可引入光路,完成光电mapping测试;
● 漏电精度可达10pA/100fA(屏蔽箱内);
● 精密传动机构,线性移动,无回程差设计;
● U型探针架, 可以放置多个探针座;
● 整体尺寸小,方便携带,底部蜂窝隔振板,提高测试稳定性。
光学隔振平台(台面>600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表(含软件)等。
测试时连接探针台和数字源表,探针接被测物体,通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面,待连接导通后打开源表软件,选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。
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谱量光电可根据客户实际应用需求,定制配套探针台系统,以达更好的测试效果及更高的性价比,具体信息可联系详询。