光束质量分析仪

谱量光电提供的光束质量分析仪可实现激光光斑检测和测试应用，对截面光斑进行多维度测试分析，设备采用一体化设计、配套衰减方案设计，支持实时曝光及增益调节。广泛应用于半导体激光器、固体激光器、光纤激光器、超快激光器、激光测距等领域。

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产品介绍

光束质量分析仪是对空间辐射的光束在某一位置横截面上得到光斑，对其内部的光强分布、外形轮廓、光斑大小等信息进行精密定量分析的仪器。它是基于高速面阵CCD或CMOS感光器件，对所测光斑进行完整接收，逐个像素记录对应的光强信息，并还原出光斑的整体光强分布样貌，最终计算光斑直径、光强质心位置坐标等测量结果。

可见光光束质量分析仪

产品特点：

● 具备高分辨率和小像元尺寸
● 兼容脉冲和连续激光测量
● 光斑直径测量范围22μm-22mm

● 支持手动和自动实时曝光机增益调节
● 紧凑设计，标配支架，衰减，使用方便
● 接口高速USB3.0/GigE可选

应用领域：

● 激光光斑检测
● 光学器件质量检查
● 激光腔镜调整

● 外光路准直
● 光纤对准耦合分析
● 激光加工过程检测

技术参数：

型号	BAS4.3-1100	BAS7.1-1100	BAS10.4-1100	BAS15-1100
检测波段	300-1100nm	300-1100nm	300-1100nm	300-1100nm
成像尺寸	5.7*4.3mm	8.4*7.1mm	14.1*10.4mm	15.8*21mm
像元尺寸	2.2μm	3.45μm	3.45μm	6μm
最小下沉距离	6mm	6mm	6mm	6mm
曝光时间	0.05-500ms	0.05-500ms	0.05-500ms	0.05-500ms
快门	卷帘	全局	全局	全局
光斑检测范围	22μm-4.3mm	34.5μm-7.1mm	34.5μm-10.4mm	60μm-15mm
最大功率密度	50W/cm²（OD3.5衰减）	50W/cm²（OD3.5衰减）	50W/cm²（OD3.5衰减）	50W/cm²（OD3.5衰减）
最大功率	1W	1W	1W	1W
衰减器	标配OD1+2+3	标配OD1+2+3	标配OD1+2+3	标配OD1+2+3
数据接口	USB3.0	USB3.0	USB3.0	USB3.0
外触发	不支持	支持	支持	支持
结构类型	最小尺寸，侧面接线	背面结构，兼容C口	背面结构，兼容C口	背面结构，兼容C口
外形尺寸	见结构图	见结构图	见结构图	见结构图
使用环境	15~25℃，湿度<60%	15~25℃，湿度<60%	15~25℃，湿度<60%	15~25℃，湿度<60%
重量	<500g	<500g	<500g	<500g

近红外光束质量分析仪

产品特点：

● 波长响应范围400-1700nm
● 实时监测光束形状及位置等变化
● 高分辨率，高准确率

● 接口高速USB3.0/GigE可选
● 兼容测量连续及脉冲激光器

应用领域：

● 红外激光束轮廓分析
● 光电设备制造控制
● 光电测试和检验

● 光纤检查
● 激光加工过程检测

技术参数：

型号	BASN2.6-1700	BASN5-1700
检测波段	400-1700nm	400-1700nm
成像尺寸	3.2*2.6mm	6.4*5.1mm
像元尺寸	5*5μm	5*5μm
传感器类型	InGaAs	InGaAs
像元尺寸	5*5μm	5*5μm
分辨率	656*520	1280*1024
光斑检测范围	50μm-2.6mm	50μm-5mm